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    半导体高温储存试验测试标准

    作者:编辑:来源:发布时间:2020-06-12 10:27:00
    国际标准分类中,半导体高温储存试验涉及到半导体分立器件。
    在中国标准分类中,半导体高温储存试验涉及到半导体分立器件综合、电力半导体器件、部件。
    国际电工委员会,关于半导体 高温储存试验的标准
    IEC 60749-6-2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
    IEC 60749-6-2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
    IEC 60749-6 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
    IEC 60749-6-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
    韩国标准,关于半导体 高温储存试验的标准
    KS C IEC 60749-6-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
    德国标准化学会,关于半导体 高温储存试验的标准
    DIN EN 60749-6-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温储存
    法国标准化协会,关于半导体 高温储存试验的标准
    NF C96-022-6-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
    英国标准学会,关于半导体 高温储存试验的标准
    BS EN 60749-6-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.高温下储存
    欧洲电工标准化委员会,关于半导体 高温储存试验的标准
    EN 60749-6-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存 部分替代EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001;IEC 60749-6-2002
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